説明
説明なし構成
FIBOEMモデルの説明
The Helios NanoLab 400 is a DualBeam system that integrates both ion and electron beams for Focused Ion Beam (FIB) and Scanning Electron Microscopy (SEM) functionality in one machine. This allows users to switch between the two beams for quick and accurate navigation and milling. The convergence of the SEM and FIB at a short working distance enables precision “slice-and-view” cross-sectioning and analysis at high resolution. This system provides a powerful tool for sample preparation and analysis.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
129953
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
同様のリスト
すべて表示
THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS
HELIOS NANOLAB 400
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
129953
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
説明なし構成
FIBOEMモデルの説明
The Helios NanoLab 400 is a DualBeam system that integrates both ion and electron beams for Focused Ion Beam (FIB) and Scanning Electron Microscopy (SEM) functionality in one machine. This allows users to switch between the two beams for quick and accurate navigation and milling. The convergence of the SEM and FIB at a short working distance enables precision “slice-and-view” cross-sectioning and analysis at high resolution. This system provides a powerful tool for sample preparation and analysis.ドキュメント
ドキュメントなし