説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The Helios NanoLab 650 features FEI’s advances in field emission SEM (FESEM) and focused ion beam (FIB) technologies and their combined use. As FEI’s 11th DualBeamTM platform, it is designed to access a new world of extreme high resolution (XHR) 2D and 3D characterization, nanoprototyping, and higher quality sample preparation.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 17日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
138744
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS
HELIOS NANOLAB 650
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 17日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
138744
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
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Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The Helios NanoLab 650 features FEI’s advances in field emission SEM (FESEM) and focused ion beam (FIB) technologies and their combined use. As FEI’s 11th DualBeamTM platform, it is designed to access a new world of extreme high resolution (XHR) 2D and 3D characterization, nanoprototyping, and higher quality sample preparation.ドキュメント
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