説明
Wafer SEM構成
構成なしOEMモデルの説明
High-precision 300 mm full-wafer focused ion beam scanning electron microscopeドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 14日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
152412
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS
Helios 5 EXL
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 14日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
152412
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
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Available
Transaction Insured by Moov
Available
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Available
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Wafer SEM構成
構成なしOEMモデルの説明
High-precision 300 mm full-wafer focused ion beam scanning electron microscopeドキュメント
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