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THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS XL50
    説明
    説明なし
    構成
    Scanning Electron Microscope (SEM FEI XL50 Large sample chamber w/ load lock Capable to navigate full 8” wafer. Stage platen to hold full wafer Stage platen for multi stub analysis System is installed and operational Noran EDS detector
    OEMモデルの説明
    Scanning Electron Microscope
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS

    XL50

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    検証済み

    カテゴリ
    SEM / FIB

    最終検証： 60日以上前

    主なアイテムの詳細
    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    Installed / Running

    製品ID：

    106592

    ウェーハサイズ：

    8"/200mm

    ヴィンテージ：

    不明

    Logistics Support
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    同様のリスト
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    THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS XL50

    THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS

    XL50

    SEM / FIB
    ヴィンテージ： 0状態： 中古
    最終確認60日以上前

    THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS

    XL50

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    検証済み
    カテゴリ
    SEM / FIB
    最終検証： 60日以上前
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    主なアイテムの詳細
    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    Installed / Running

    製品ID：

    106592

    ウェーハサイズ：

    8"/200mm

    ヴィンテージ：

    不明

    Logistics Support
    Available
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    Available
    Refurbishment Services
    Available
    説明
    説明なし
    構成
    Scanning Electron Microscope (SEM FEI XL50 Large sample chamber w/ load lock Capable to navigate full 8” wafer. Stage platen to hold full wafer Stage platen for multi stub analysis System is installed and operational Noran EDS detector
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    SEM / FIBヴィンテージ： 0状態： 中古最終検証：60日以上前