説明
ANALYTICAL EQUIPMENT構成
FA SEMs/TEMs/Dual Beams 200kV dedicated STEM with thermal FE election source Resolution 0.204nm Phase contract image (TE image), Z-contrast image (ZC image), Secondary electron image (SE image)OEMモデルの説明
200 kV dedicated STEM for semiconducting industry, materials science and biological science.ドキュメント
ドキュメントなし
HITACHI
HD-2300
検証済み
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
20309
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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