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COHU / LTX-CREDENCE IDS OptiFIB
    説明
    FAIA21 - Equipamento baseado em feixes de ions focalizados, para eliminação de matéria, análise e modificação de circuitos integrados -
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The IDS OptiFIB is a Focused Ion Beam product used for circuit edit and repair. The IDS OptiFIB is unique because it combines ion and photon optics in a single coaxial column with a CAD navigation interface, which enables the user to align FIB and CAD images simultaneously, increasing the accuracy of circuit modification. In failure analysis, the IDS OptiFIB can identify and repair circuit layout at inner metal layers. The system can provide option to edit 300mm wafers.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    SEM / FIB

    最終検証: 12日前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    149361


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


    Logistics Support
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    COHU / LTX-CREDENCE IDS OptiFIB

    COHU / LTX-CREDENCE

    IDS OptiFIB

    SEM / FIB
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認12日前

    COHU / LTX-CREDENCE

    IDS OptiFIB

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    検証済み
    カテゴリ
    SEM / FIB
    最終検証: 12日前
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    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    149361


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


    Logistics Support
    Available
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    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    FAIA21 - Equipamento baseado em feixes de ions focalizados, para eliminação de matéria, análise e modificação de circuitos integrados -
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The IDS OptiFIB is a Focused Ion Beam product used for circuit edit and repair. The IDS OptiFIB is unique because it combines ion and photon optics in a single coaxial column with a CAD navigation interface, which enables the user to align FIB and CAD images simultaneously, increasing the accuracy of circuit modification. In failure analysis, the IDS OptiFIB can identify and repair circuit layout at inner metal layers. The system can provide option to edit 300mm wafers.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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    SEM / FIBヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証:12日前