説明
The lower portion of the FIB column needs to be replaced Dem column is functional but there's noise in the image Magnification range: 1000kX Detectors: SE In-Beam SE BSE Process: PCB / C4 Operating system: Windows 10 Pro構成
構成なしOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし
TESCAN
XEIA 3
カテゴリ
SEM / FIB
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
138441
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
2016
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
The lower portion of the FIB column needs to be replaced Dem column is functional but there's noise in the image Magnification range: 1000kX Detectors: SE In-Beam SE BSE Process: PCB / C4 Operating system: Windows 10 Pro構成
構成なしOEMモデルの説明
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