説明
Samples up to 9.5mm x 5mm x 2.4 mm (height)構成
High resolution, cold field emission SEM. 0.5 to 30 kV Magnification range of 30X to 800,000X Image resolutions of 0.6nm (at 30kV) and 3.5nm (at 1kV) are possible with secondary electron images.OEMモデルの説明
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HITACHI
S-5000
検証済み
カテゴリ
SEM
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
55337
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
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Transaction Insured by Moov
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Refurbishment Services
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HITACHI
S-5000
検証済み
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SEM
最終検証： 60日以上前
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Used
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不明
製品ID：
55337
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不明
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Samples up to 9.5mm x 5mm x 2.4 mm (height)構成
High resolution, cold field emission SEM. 0.5 to 30 kV Magnification range of 30X to 800,000X Image resolutions of 0.6nm (at 30kV) and 3.5nm (at 1kV) are possible with secondary electron images.OEMモデルの説明
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