説明
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE構成
構成なしOEMモデルの説明
Multi Vision Metrology Scanning Electron Microscope In addition to its high-functionality CD-SEM features, the E3630 makes 3D imaging and measurement at the nanometer level, in real time and in a non-destructive way, possible. The E3630 significantly contributes to reducing TAT in R&D and production for many processes that require high-precision and/or 3D analysis.ドキュメント
ドキュメントなし
ADVANTEST
E3630
検証済み
カテゴリ
SEM
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
79946
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Multi Vision Metrology Scanning Electron Microscope In addition to its high-functionality CD-SEM features, the E3630 makes 3D imaging and measurement at the nanometer level, in real time and in a non-destructive way, possible. The E3630 significantly contributes to reducing TAT in R&D and production for many processes that require high-precision and/or 3D analysis.ドキュメント
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