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JEOL JSM 5900LV
    説明
    説明なし
    構成
    Resolution: 3 nm @ 30kV (SEI), 5 nm @ 30kV (BEI) Sample: 8" max., 125 mm X, 100 mm Y Options:X-SIS, EDS, IR Camera, 8" Chamber
    OEMモデルの説明
    提供なし
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    JEOL

    JSM 5900LV

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    検証済み

    カテゴリ
    SEM

    最終検証: 60日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    12079


    ウェーハサイズ:

    8"/200mm


    ヴィンテージ:

    不明


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    JEOL JSM 5900LV

    JEOL

    JSM 5900LV

    SEM
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認60日以上前

    JEOL

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    検証済み
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    SEM
    最終検証: 60日以上前
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    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    12079


    ウェーハサイズ:

    8"/200mm


    ヴィンテージ:

    不明


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    ドキュメント

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    JEOL

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    SEMヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証:60日以上前
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