説明

説明なし

構成

Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM)

OEMモデルの説明

Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM)

ドキュメント

ドキュメントなし

JEOL

JSM-7800F

検証済み

カテゴリ

SEM

最終検証： 30日以上前

主なアイテムの詳細

状態：

Used

稼働ステータス:

不明

製品ID：

58971

ウェーハサイズ：

不明

ヴィンテージ：

不明

Have Additional Questions?

Logistics Support

Available

Money Back Guarantee

Available

Transaction Insured by Moov

Available

Refurbishment Services

Available

同様のリスト

すべて表示

JEOL

JSM-7800F

SEM

ヴィンテージ： 0状態：中古

最終確認30日以上前

JEOL

JSM-7800F

検証済み

カテゴリ

SEM

最終検証： 30日以上前

listing-photo-eb3e19f2f66d46d18bc517373e2e976a-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/2046/eb3e19f2f66d46d18bc517373e2e976a/a80c48ab8ef04678ab97ca6af66d39f1_4331fef507cb4b3b990ecd2f0717ac611201a_mw.jpeg

主なアイテムの詳細

状態：

Used

稼働ステータス:

不明

製品ID：

58971

ウェーハサイズ：

不明

ヴィンテージ：

不明

Logistics Support

Available

Money Back Guarantee

Available

Transaction Insured by Moov

Available

Refurbishment Services

Available

説明

説明なし

構成

Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM)

OEMモデルの説明

Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM)

ドキュメント

ドキュメントなし

同様のリスト

すべて表示

JEOL

JSM-7800F

SEMヴィンテージ： 0状態：中古最終検証： 30日以上前