説明

説明なし

構成

TESCAN VEGA 1 - SMU - SED & BSED - LowVac Option

OEMモデルの説明

TESCAN VEGA’s 4th generation Scanning Electron Microscope (SEM) with tungsten filament electron source combines SEM imaging and live elemental composition analysis in a single window of TESCAN’s Essence™ software.

ドキュメント

ドキュメントなし

TESCAN

VEGA

検証済み

カテゴリ

SEM

最終検証： 60日以上前

主なアイテムの詳細

状態：

Used

稼働ステータス:

不明

製品ID：

83657

ウェーハサイズ：

不明

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不明

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