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IONTOF TOF.SIMS M6
    説明
    説明なし
    構成
    -M6 High Performance Time‑of‑Flight Secondary Ion Mass Spectrometry System – Main unit of the M6 system. -Bake‑out Loadlock – In‑chamber baking system for the loadlock. -Nanoprobe 50 – Latest‑generation high‑performance BiMn cluster ion gun for high mass resolution surface spectroscopy, high lateral spatial resolution 2D/3D imaging, and high‑performance depth profiling. -DSC O₂/CS Dual Ion Source Optical Column – Electron‑bombardment gas ion source and thermal‑ionization Cs ion source; compatible with Nanoprobe 50 for depth profiling. -Auto Gas Flood System – Pressure‑controlled leak valve and nozzle for introducing trace gases onto the sample surface during analysis; automatic gas switching via Vacuum Control Unit (VCU). -Consumables – One‑year consumables package (slightly adjustable depending on configuration).
    OEMモデルの説明
    提供なし
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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    検証済み

    カテゴリ
    Spectrometer / SIMS

    最終検証: 2日前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    149098


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


    Logistics Support
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    IONTOF TOF.SIMS M6

    IONTOF

    TOF.SIMS M6

    Spectrometer / SIMS
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認2日前

    IONTOF

    TOF.SIMS M6

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    Spectrometer / SIMS
    最終検証: 2日前
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    ドキュメント

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    IONTOF TOF.SIMS M6

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    TOF.SIMS M6

    Spectrometer / SIMSヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証:2日前