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FEI-TECNAI Titan 80-300
    説明
    This single device is a classic flagship scientific research platform that integrates atomic-level imaging, light element analysis, 0.7 eV ultra-high energy resolution, and 1000°C in-situ heating, covering the full-dimensional characterization of "structure-composition-dynamic processes". Philips / FEI Titan 80-300 Transmission Electron Microscope
    構成
    Electron Gun Type: Schottky Field Emission Gun (S-FEG) Accelerating Voltage: 80 kV / 300 kV Dual Voltage Mode Objective Lens System: S-Twin lens with Image Corrector STEM-HAADF Resolution: 0.136 nm Detector: High-Angle Annular Dark-Field (HAADF) Detector CCD Camera: Gatan OneView EDS Spectrometer (EDAX Detector): - Energy Resolution: 136 eV ($\text{Mn-K}\alpha$) - Elemental Detection Range: Z=5 (Boron and heavier elements) EELS Spectrometer (GIF Tridiem 863): - Energy Resolution: 0.7 eV Solid Angle: 0.13 sr Sample Stage: Single-Tilt Holder / Fixture
    OEMモデルの説明
    提供なし
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    FEI-TECNAI

    Titan 80-300

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    検証済み

    カテゴリ
    TEM

    最終検証： 17日前

    主なアイテムの詳細
    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    不明

    製品ID：

    151851

    ウェーハサイズ：

    不明

    ヴィンテージ：

    2006

    Logistics Support
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    FEI-TECNAI Titan 80-300

    FEI-TECNAI

    Titan 80-300

    TEM
    ヴィンテージ： 2006状態： 中古
    最終確認17日前
    FEI-TECNAI Titan 80-300

    FEI-TECNAI

    Titan 80-300

    TEM
    ヴィンテージ： 2009状態： 中古
    最終確認18日前
    FEI-TECNAI Titan 80-300

    FEI-TECNAI

    Titan 80-300

    TEM
    ヴィンテージ： 0状態： 中古
    最終確認60日以上前

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    検証済み
    カテゴリ
    TEM
    最終検証： 17日前
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    主なアイテムの詳細
    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    不明

    製品ID：

    151851

    ウェーハサイズ：

    不明

    ヴィンテージ：

    2006

    Logistics Support
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    説明
    This single device is a classic flagship scientific research platform that integrates atomic-level imaging, light element analysis, 0.7 eV ultra-high energy resolution, and 1000°C in-situ heating, covering the full-dimensional characterization of "structure-composition-dynamic processes". Philips / FEI Titan 80-300 Transmission Electron Microscope
    構成
    Electron Gun Type: Schottky Field Emission Gun (S-FEG) Accelerating Voltage: 80 kV / 300 kV Dual Voltage Mode Objective Lens System: S-Twin lens with Image Corrector STEM-HAADF Resolution: 0.136 nm Detector: High-Angle Annular Dark-Field (HAADF) Detector CCD Camera: Gatan OneView EDS Spectrometer (EDAX Detector): - Energy Resolution: 136 eV ($\text{Mn-K}\alpha$) - Elemental Detection Range: Z=5 (Boron and heavier elements) EELS Spectrometer (GIF Tridiem 863): - Energy Resolution: 0.7 eV Solid Angle: 0.13 sr Sample Stage: Single-Tilt Holder / Fixture
    OEMモデルの説明
    提供なし
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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    FEI-TECNAI Titan 80-300

    FEI-TECNAI

    Titan 80-300

    TEMヴィンテージ： 2006状態： 中古最終検証：17日前
    FEI-TECNAI Titan 80-300

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    TEMヴィンテージ： 2009状態： 中古最終検証：18日前
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    Titan 80-300

    TEMヴィンテージ： 0状態： 中古最終検証：60日以上前