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構成なしOEMモデルの説明
Advanced scanning transmission electron microscope (STEM) used for high-resolution industrial metrology, semiconductor inspection, and failure analysisドキュメント
ドキュメントなし
HITACHI
HD2700B
カテゴリ
TEM
最終検証： 2日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
153251
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2010
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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