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KLA / ADE AFS-3220
    説明
    flatness
    構成
    Working/Deinstall; 300mm Flatness Measuring
    OEMモデルの説明
    AFS 3220, utilize high voltage fast differential charge amplifiers with low noise DAC oscillator, 375 KHz synchronized DC/DC converter power supplies, antialising filter and ADC. The 3220 AFS system is the company's latest in a line of non contact capacitance-based wafer geometry measurement systems.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    KLA / ADE

    AFS-3220

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    Thin Film / Film Thickness

    最終検証: 60日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    96815


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    1999


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    KLA / ADE AFS-3220

    KLA / ADE

    AFS-3220

    Thin Film / Film Thickness
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認12日前

    KLA / ADE

    AFS-3220

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    検証済み
    カテゴリ
    Thin Film / Film Thickness
    最終検証: 60日以上前
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    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    96815


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    1999


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    Available
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    Available
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    Available
    説明
    flatness
    構成
    Working/Deinstall; 300mm Flatness Measuring
    OEMモデルの説明
    AFS 3220, utilize high voltage fast differential charge amplifiers with low noise DAC oscillator, 375 KHz synchronized DC/DC converter power supplies, antialising filter and ADC. The 3220 AFS system is the company's latest in a line of non contact capacitance-based wafer geometry measurement systems.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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    Thin Film / Film Thicknessヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証:60日以上前
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    KLA / ADE

    AFS-3220

    Thin Film / Film Thicknessヴィンテージ: 1999状態: 中古最終検証:60日以上前