説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
UltraScan Wafer Metrology System The 9600 and 9650 systems, introduced in 1994 and based on the more advanced E-Plus station, measure thickness down to an accuracy of 0.25 microns.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 12日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
152750
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA / ADE
ULTRASCAN 9600
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 12日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
152750
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
UltraScan Wafer Metrology System The 9600 and 9650 systems, introduced in 1994 and based on the more advanced E-Plus station, measure thickness down to an accuracy of 0.25 microns.ドキュメント
ドキュメントなし