説明
Critical Dimension (CD) Measurement (non SEM)構成
構成なしOEMモデルの説明
The Atlas III, Atlas II+, and Atlas XP/Atlas XP+ line of high-performance metrology systems providing optical critical dimension (“OCD”®), thin film metrology and wafer stress for transistor and interconnect metrology applications.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 19日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
147775
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
ATLAS III
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 19日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
147775
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Critical Dimension (CD) Measurement (non SEM)構成
構成なしOEMモデルの説明
The Atlas III, Atlas II+, and Atlas XP/Atlas XP+ line of high-performance metrology systems providing optical critical dimension (“OCD”®), thin film metrology and wafer stress for transistor and interconnect metrology applications.ドキュメント
ドキュメントなし