説明
METROLOGY構成
8300 XSEOEMモデルの説明
The NanoSpec 8300 is a film thickness measuring system designed by Nanometrics for the semiconductor industry. It is capable of handling both 200mm and 300mm diameter wafers. The system incorporates both a spectroscopic ellipsometer and spectrophotometer, enabling it to accurately measure and analyze virtually any dielectric film used in semiconductor manufacture today.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 17日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
149426
ウェーハサイズ：
8"/200mm, 12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
NANOSPEC 8300
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 17日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
149426
ウェーハサイズ：
8"/200mm, 12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
METROLOGY構成
8300 XSEOEMモデルの説明
The NanoSpec 8300 is a film thickness measuring system designed by Nanometrics for the semiconductor industry. It is capable of handling both 200mm and 300mm diameter wafers. The system incorporates both a spectroscopic ellipsometer and spectrophotometer, enabling it to accurately measure and analyze virtually any dielectric film used in semiconductor manufacture today.ドキュメント
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