説明
Thin Films measurement tool, 8300 XSE Film Thickness Analyzer, Semi Automatic loader (150, 200, and 300mm wafers)構成
構成なしOEMモデルの説明
Same as 8300X. Spectroscopic ellipsometer. The 8300XSE includes a fully integrated spectroscopic ellipsometer which expands the measurement capabilities of the basic product, especially in ultrathin and multiple film stack measurement applications.ドキュメント
ドキュメントなし
ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
NANOSPEC 8300XSE
検証済み
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
116017
ウェーハサイズ：
6"/150mm, 8"/200mm, 12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
NANOSPEC 8300XSE
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
116017
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6"/150mm, 8"/200mm, 12"/300mm
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不明
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Thin Films measurement tool, 8300 XSE Film Thickness Analyzer, Semi Automatic loader (150, 200, and 300mm wafers)構成
構成なしOEMモデルの説明
Same as 8300X. Spectroscopic ellipsometer. The 8300XSE includes a fully integrated spectroscopic ellipsometer which expands the measurement capabilities of the basic product, especially in ultrathin and multiple film stack measurement applications.ドキュメント
ドキュメントなし