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FORM FACTOR / CASCADE MICROTECH / FRT MICROPROF 200
    説明
    Tool does have TSV. Tool doesn’t have a TTV (total thickness variation) function.
    構成
    Vacuum wafer chuck for 150mm and 200mm wafer CWL spectrometer 4kHz CWL 600µm sensor CWL FT (10µm) sensor head MHU (wafer handing unit) for 150mm and 200mm Semi standard wafer Prealigner Acquire Automation XT software packages: Film thickness; Step height; Bumps measurement (height, coplanarity, diameter); Roughness;
    OEMモデルの説明
    提供なし
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    FORM FACTOR / CASCADE MICROTECH / FRT

    MICROPROF 200

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    検証済み

    カテゴリ
    Thin Film / Film Thickness

    最終検証: 60日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    111618


    ウェーハサイズ:

    6"/150mm, 8"/200mm


    ヴィンテージ:

    2011


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    Thin Film / Film Thickness
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認60日以上前

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    MICROPROF 200

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    検証済み
    カテゴリ
    Thin Film / Film Thickness
    最終検証: 60日以上前
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    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    111618


    ウェーハサイズ:

    6"/150mm, 8"/200mm


    ヴィンテージ:

    2011


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    Available
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    Available
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    Available
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    Available
    説明
    Tool does have TSV. Tool doesn’t have a TTV (total thickness variation) function.
    構成
    Vacuum wafer chuck for 150mm and 200mm wafer CWL spectrometer 4kHz CWL 600µm sensor CWL FT (10µm) sensor head MHU (wafer handing unit) for 150mm and 200mm Semi standard wafer Prealigner Acquire Automation XT software packages: Film thickness; Step height; Bumps measurement (height, coplanarity, diameter); Roughness;
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    提供なし
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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    Thin Film / Film Thicknessヴィンテージ: 2011状態: 中古最終検証:60日以上前