説明
Film Thickness Measurement System構成
構成なしOEMモデルの説明
The F10-RT reflectometer captures reflectance and transmittance spectra with a single mouse-click. For a fraction of the price of legacy reflectometry systems, users can measure min/max and color. Thickness Range: 15nm - 70µm Wavelength Range: 380-1050nmドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 19日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
147706
ウェーハサイズ：
6"/150mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA / FILMETRICS
F10-RT
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 19日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
147706
ウェーハサイズ：
6"/150mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Film Thickness Measurement System構成
構成なしOEMモデルの説明
The F10-RT reflectometer captures reflectance and transmittance spectra with a single mouse-click. For a fraction of the price of legacy reflectometry systems, users can measure min/max and color. Thickness Range: 15nm - 70µm Wavelength Range: 380-1050nmドキュメント
ドキュメントなし