説明
Wafer thickness measurement system構成
構成なしOEMモデルの説明
The FSM 413 by Frontier Semiconductor (FSM) is a specialized dimensional and topography metrology measurement system designed for non-contact wafer thickness and thin-film metrology.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 4日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
153161
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR
FSM 413
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 4日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
153161
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Wafer thickness measurement system構成
構成なしOEMモデルの説明
The FSM 413 by Frontier Semiconductor (FSM) is a specialized dimensional and topography metrology measurement system designed for non-contact wafer thickness and thin-film metrology.ドキュメント
ドキュメントなし