説明
Room Temperature Thin Film Stress and Flatness Measurement System構成
MetrologyOEMモデルの説明
Film stress and wafer bow measurement for wafers up to 300mm diameter. 2D/3D stress mapping standard. Semi-automated system with convenient wafer loading and retrieval.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 6日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
146837
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR
FSM-128L
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 6日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
146837
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
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Available
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Available
Refurbishment Services
Available
説明
Room Temperature Thin Film Stress and Flatness Measurement System構成
MetrologyOEMモデルの説明
Film stress and wafer bow measurement for wafers up to 300mm diameter. 2D/3D stress mapping standard. Semi-automated system with convenient wafer loading and retrieval.ドキュメント
ドキュメントなし