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FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR RAMAN 360
    説明
    説明なし
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    Micro Raman system for lattice level strain and material composition measurement. High spectral resolution (0.02 cm-1) and sub micron lateral resolution. Measurement of through silicon via (TSV) keep out zone, local stress and composition profiling. Fully automated C2C system.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR

    RAMAN 360

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    検証済み

    カテゴリ
    Thin Film / Film Thickness

    最終検証: 60日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    89292


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR RAMAN 360

    FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR

    RAMAN 360

    Thin Film / Film Thickness
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認60日以上前

    FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR

    RAMAN 360

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    検証済み
    カテゴリ
    Thin Film / Film Thickness
    最終検証: 60日以上前
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    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    89292


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


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    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    Micro Raman system for lattice level strain and material composition measurement. High spectral resolution (0.02 cm-1) and sub micron lateral resolution. Measurement of through silicon via (TSV) keep out zone, local stress and composition profiling. Fully automated C2C system.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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    Thin Film / Film Thicknessヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証:60日以上前