説明
flatness & Thickness構成
構成なしOEMモデルの説明
Benchtop automated thickness measurement system with X-Y stage on air bearing for wafers up to 8” round and for square wafers up to 156mmx156mm. Solar Wafers QA and QC, Cost effective, compact metrology tool for R&D labs for all type of wafers and surfaces.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 17日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
137062
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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不明
製品ID：
137062
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
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flatness & Thickness構成
構成なしOEMモデルの説明
Benchtop automated thickness measurement system with X-Y stage on air bearing for wafers up to 8” round and for square wafers up to 156mmx156mm. Solar Wafers QA and QC, Cost effective, compact metrology tool for R&D labs for all type of wafers and surfaces.ドキュメント
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