説明
Provides precise, non-destructive thin film stress measurement via substrate curvature analysis, supporting process control, failure analysis, and R&D applications. Configured for wafer-based measurements with support for sizes up to approximately 200mm. Power: 115V / 1 Phase / 60Hz構成
構成なしOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし
KLA
FLX 2320A
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 16日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
146114
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
1993
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Provides precise, non-destructive thin film stress measurement via substrate curvature analysis, supporting process control, failure analysis, and R&D applications. Configured for wafer-based measurements with support for sizes up to approximately 200mm. Power: 115V / 1 Phase / 60Hz構成
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