説明
ADE 6033T Wafer Thickness Measurement構成
WorkingOEMモデルの説明
The Model 6033T, using ADE’s patented capacitive measurement principle, measures wafers for Thickness and Total Thickness Variation (TVV). Whenever semiconductor wafer inspection is required, the MicroSense Model 6033T offers a low cost method of achieving fast, accurate measurements on wafers up to 150mm in diameter.ドキュメント
ドキュメントなし
KLA / MICROSENSE
6033T
検証済み
カテゴリ
Wafer Testing
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
66065
ウェーハサイズ：
6"/150mm
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA / MICROSENSE
6033T
カテゴリ
Wafer Testing
最終検証： 60日以上前
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状態：
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不明
製品ID：
66065
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6"/150mm
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ADE 6033T Wafer Thickness Measurement構成
WorkingOEMモデルの説明
The Model 6033T, using ADE’s patented capacitive measurement principle, measures wafers for Thickness and Total Thickness Variation (TVV). Whenever semiconductor wafer inspection is required, the MicroSense Model 6033T offers a low cost method of achieving fast, accurate measurements on wafers up to 150mm in diameter.ドキュメント
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