SiPHER
概要（Overview）
The SiPHER is a fully automated photoluminescence metrology system for the detection and mapping of 300mm substrate defects and metallic contamination. SiPHER detects and quantifies near surface and bulk metallic contamination in both bulk silicon and silicon epitaxial layers.
現在の掲載品
4
サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
トップ掲載リスト
ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
SiPHER
Wet Processing / Wafer Cleaningヴィンテージ： 2000状態： 中古最終確認60日以上前ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
SiPHER
Wet Processing / Wafer Cleaningヴィンテージ： 状態： 中古最終確認29日前ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
SiPHER
Wet Processing / Wafer Cleaningヴィンテージ： 12状態： 中古最終確認30日以上前ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
SiPHER
Wet Processing / Wafer Cleaningヴィンテージ： 2002状態： 中古最終確認60日以上前
