説明
Atomic force microscope構成
構成なしOEMモデルの説明
Powder X-ray diffractometer (XRD) used for crystal phase identification, structure determination, and crystallite size analysisドキュメント
ドキュメントなし
BRUKER
D500
カテゴリ
X-Ray / XRD / XRF
最終検証： 18日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
155204
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Atomic force microscope構成
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