説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
Automated X-ray defect inspection and metrology system designed for 300 mm silicon semiconductor wafersドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
X-Ray / XRD / XRF
最終検証： 昨日
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
158707
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
BRUKER
JVsensus-600F
カテゴリ
X-Ray / XRD / XRF
最終検証： 昨日
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
158707
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
Automated X-ray defect inspection and metrology system designed for 300 mm silicon semiconductor wafersドキュメント
ドキュメントなし