説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The 2830 ZT wavelength dispersive X-ray fluorescence (WDXRF) wafer analyzer offers the ultimate capability for measuring film thickness and composition. Designed specifically for the semiconductor and data storage industry, the 2830 ZT Wafer Analyzer enables the determination of layer composition, thickness, dopant levels and surface uniformity for a wide range of wafers up to 300 mm.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
X-Ray / XRD / XRF
最終検証： 11日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
141906
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
MALVERN PANALYTICAL
2830 ZT
カテゴリ
X-Ray / XRD / XRF
最終検証： 11日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
141906
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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構成なしOEMモデルの説明
The 2830 ZT wavelength dispersive X-ray fluorescence (WDXRF) wafer analyzer offers the ultimate capability for measuring film thickness and composition. Designed specifically for the semiconductor and data storage industry, the 2830 ZT Wafer Analyzer enables the determination of layer composition, thickness, dopant levels and surface uniformity for a wide range of wafers up to 300 mm.ドキュメント
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