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NANOSEM 3D

カテゴリ
CD-SEM
概要(Overview)

Introduced in fiscal 2002, the NanoSEM 3D system extends CD-SEM technology beyond the measurement of critical dimensions to enable the three-dimensional imaging of chip features to more precisely control their lithography and etch processes.

現在の掲載品

6

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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