説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
Introduced in fiscal 2002, the NanoSEM 3D system extends CD-SEM technology beyond the measurement of critical dimensions to enable the three-dimensional imaging of chip features to more precisely control their lithography and etch processes.ドキュメント
ドキュメントなし
APPLIED MATERIALS (AMAT)
NANOSEM 3D
検証済み
カテゴリ
CD-SEM
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
44377
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2004
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Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
APPLIED MATERIALS (AMAT)
NANOSEM 3D
検証済み
カテゴリ
CD-SEM
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
44377
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2004
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Introduced in fiscal 2002, the NanoSEM 3D system extends CD-SEM technology beyond the measurement of critical dimensions to enable the three-dimensional imaging of chip features to more precisely control their lithography and etch processes.ドキュメント
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