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構成なしOEMモデルの説明
Introduced in fiscal 2002, the NanoSEM 3D system extends CD-SEM technology beyond the measurement of critical dimensions to enable the three-dimensional imaging of chip features to more precisely control their lithography and etch processes.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
CD-SEM
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
44380
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2003
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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APPLIED MATERIALS (AMAT)
NANOSEM 3D
カテゴリ
CD-SEM
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
44380
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2003
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
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構成なしOEMモデルの説明
Introduced in fiscal 2002, the NanoSEM 3D system extends CD-SEM technology beyond the measurement of critical dimensions to enable the three-dimensional imaging of chip features to more precisely control their lithography and etch processes.ドキュメント
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