説明
CD-SEM構成
Software Version:35.47 Resolution:1.8nm Throughput:42wafer/hOEMモデルの説明
The CG4100 is a high-throughput instrument for 32-nm process production and 22-nm process development which was designed to meet the measurement needs of the latest generation of double patterning techniques.ドキュメント
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HITACHI
CG4100
カテゴリ
CD-SEM
最終検証： 4日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
156936
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
2013
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
CD-SEM構成
Software Version:35.47 Resolution:1.8nm Throughput:42wafer/hOEMモデルの説明
The CG4100 is a high-throughput instrument for 32-nm process production and 22-nm process development which was designed to meet the measurement needs of the latest generation of double patterning techniques.ドキュメント
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