説明
Frame Darkfield構成
構成なしOEMモデルの説明
Applied ComPlus-EV Inspection is the industry's only patterned wafer inspection system that performs high-speed inspection of all darkfield and key brightfield applications for 90nm production. Using proprietary Enlarged GrayField technology, this single-system solution detects a broad range of defect types at production throughput, enabling faster ramp and higher production yield.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
116595
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
2003
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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APPLIED MATERIALS (AMAT)
COMPLUS
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
116595
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
2003
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Frame Darkfield構成
構成なしOEMモデルの説明
Applied ComPlus-EV Inspection is the industry's only patterned wafer inspection system that performs high-speed inspection of all darkfield and key brightfield applications for 90nm production. Using proprietary Enlarged GrayField technology, this single-system solution detects a broad range of defect types at production throughput, enabling faster ramp and higher production yield.ドキュメント
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