SEMVISION G3 LITE
概要(Overview)
The SEMVision G3 Lite is a part of Applied Materials’ SEMVision G3 family, which is the industry’s fastest and most sensitive line of defect review and analysis tools for 65/45nm manufacturing and beyond. The new line of three systems sets the industry benchmark with 30nm sensitivity and throughputs of up to 1,800 defects per hour.
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サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
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APPLIED MATERIALS (AMAT)
SEMVISION G3 LITE
Defect Inspectionヴィンテージ: 2007状態: 中古最終確認60日以上前APPLIED MATERIALS (AMAT)
SEMVISION G3 LITE
Defect Inspectionヴィンテージ: 2007状態: 中古最終確認60日以上前APPLIED MATERIALS (AMAT)
SEMVISION G3 LITE
Defect Inspectionヴィンテージ: 2007状態: 中古最終確認60日以上前APPLIED MATERIALS (AMAT)
SEMVISION G3 LITE
Defect Inspectionヴィンテージ: 状態: 中古最終確認60日以上前