説明

説明なし

構成

QZ_Defect

OEMモデルの説明

high resolution tool down to 3nm that performs hot spot inspection for both logic and memory fabs as a customers' process node goes into volume production. eP3 for 3nm is seeing demand from memory fabs' 25nm to 20nm migration.

ドキュメント

ドキュメントなし

ASML / HMI

eP3

検証済み

カテゴリ

Defect Inspection

最終検証： 13日前

主なアイテムの詳細

状態：

Used

稼働ステータス:

不明

製品ID：

144870

ウェーハサイズ：

12"/300mm

ヴィンテージ：

2014

Logistics Support

Available

Transaction Insured by Moov

Available

Refurbishment Services

Available

同様のリスト

すべて表示

ASML / HMI

eP3

Defect Inspection

ヴィンテージ： 2014状態：中古

最終確認13日前

ASML / HMI

eP3

検証済み

カテゴリ

Defect Inspection

最終検証： 13日前

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主なアイテムの詳細

状態：

Used

稼働ステータス:

不明

製品ID：

144870

ウェーハサイズ：

12"/300mm

ヴィンテージ：

2014

Logistics Support

Available

Transaction Insured by Moov

Available

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Available

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Defect Inspectionヴィンテージ： 2014状態：中古最終検証：13日前