説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
high resolution tool down to 3nm that performs hot spot inspection for both logic and memory fabs as a customers' process node goes into volume production. eP3 for 3nm is seeing demand from memory fabs' 25nm to 20nm migration.ドキュメント
ドキュメントなし
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 昨日
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
158857
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ASML / HMI
eP3
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 昨日
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
158857
ウェーハサイズ：
不明
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不明
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Available
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説明
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構成なしOEMモデルの説明
high resolution tool down to 3nm that performs hot spot inspection for both logic and memory fabs as a customers' process node goes into volume production. eP3 for 3nm is seeing demand from memory fabs' 25nm to 20nm migration.ドキュメント
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