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KLA / ICOS WI-2000
    説明
    説明なし
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The WI-2000 series inspects a variety of twodimensional (2D) items, such as the surface quality of the wafer, the quality of the wafer cutting or the 2D aspects of the bump.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    KLA / ICOS

    WI-2000

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    Defect Inspection

    最終検証： 17日前

    主なアイテムの詳細
    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    不明

    製品ID：

    116012

    ウェーハサイズ：

    不明

    ヴィンテージ：

    不明

    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    KLA / ICOS WI-2000

    KLA / ICOS

    WI-2000

    Defect Inspection
    ヴィンテージ： 0状態： 中古
    最終確認17日前

    KLA / ICOS

    WI-2000

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    検証済み
    カテゴリ
    Defect Inspection
    最終検証： 17日前
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    主なアイテムの詳細
    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    不明

    製品ID：

    116012

    ウェーハサイズ：

    不明

    ヴィンテージ：

    不明

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    The WI-2000 series inspects a variety of twodimensional (2D) items, such as the surface quality of the wafer, the quality of the wafer cutting or the 2D aspects of the bump.
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