説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The WI-2000 series inspects a variety of twodimensional (2D) items, such as the surface quality of the wafer, the quality of the wafer cutting or the 2D aspects of the bump.ドキュメント
ドキュメントなし
KLA / ICOS
WI-2000
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証: 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態:
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID:
116012
ウェーハサイズ:
不明
ヴィンテージ:
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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WI-2000
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不明
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The WI-2000 series inspects a variety of twodimensional (2D) items, such as the surface quality of the wafer, the quality of the wafer cutting or the 2D aspects of the bump.ドキュメント
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