説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The ICOS WI-2200/2300, which perform 100% automated optical inspection and metrology of microelectronic devices on a variety of wafer substrates. This inspection system combines surface inspection and 2D bump inspection for semiconductor ICs, optoelectronics, advanced packaging, and MEMS.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 18日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
152124
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA / ICOS
WI-2200
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 18日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
152124
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The ICOS WI-2200/2300, which perform 100% automated optical inspection and metrology of microelectronic devices on a variety of wafer substrates. This inspection system combines surface inspection and 2D bump inspection for semiconductor ICs, optoelectronics, advanced packaging, and MEMS.ドキュメント
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