説明

Inspection SEM

構成

構成なし

OEMモデルの説明

In 1999, we developed the eS20, which has performance enhancements compared to the previous generation of e-beam defect inspection systems.

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KLA

eS20

検証済み

カテゴリ

Defect Inspection

最終検証： 60日以上前

主なアイテムの詳細

状態：

Used

稼働ステータス:

不明

製品ID：

34502

ウェーハサイズ：

不明

ヴィンテージ：

不明

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ヴィンテージ： 0状態：中古

最終確認60日以上前

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最終検証： 60日以上前

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