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eS32

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

In February 2006, KLA introduced the latest addition to our eS3x series of e-beam inspection systems—the eS32. A single system spanning development and production applications, the eS32 provides the best sensitivity at throughput for defect types that optical systems cannot find.

現在の掲載品

8

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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