メインコンテンツにスキップ
6" Fab For Sale from Moov - Click Here to Learn More
6" Fab For Sale from Moov - Click Here to Learn More
Moov logo

6" Fab For Sale from Moov - Click Here to Learn More
Moov Icon
KLA 2135
    説明
    Wafer defect detection
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The KLA 2135 is a wafer inspection system that uses advanced technology to detect all types of defects on all process layers with high capture rates. It has a two- to three-times throughput improvement over the earlier model KLA 2132 and delivers unmatched speed and sensitivity for in-line monitoring of advanced processes. It consistently detects the widest range of yield-relevant defects at the speeds required for high-volume wafer production.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    KLA

    2135

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    Defect Inspection

    最終検証: 60日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    110360


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    同様のリスト
    すべて表示
    KLA 2135

    KLA

    2135

    Defect Inspection
    ヴィンテージ: 1997状態: 中古
    最終確認60日以上前

    KLA

    2135

    verified-listing-icon
    検証済み
    カテゴリ
    Defect Inspection
    最終検証: 60日以上前
    listing-photo-74b9965908f74fb8bc27b1c4516d530c-https://d2pkkbyngq3xpw.cloudfront.net/moov_media/3.0-assets/photo-coming-soon-small.png
    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    110360


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    説明
    Wafer defect detection
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The KLA 2135 is a wafer inspection system that uses advanced technology to detect all types of defects on all process layers with high capture rates. It has a two- to three-times throughput improvement over the earlier model KLA 2132 and delivers unmatched speed and sensitivity for in-line monitoring of advanced processes. It consistently detects the widest range of yield-relevant defects at the speeds required for high-volume wafer production.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    同様のリスト
    すべて表示
    KLA 2135

    KLA

    2135

    Defect Inspectionヴィンテージ: 1997状態: 中古最終検証:60日以上前
    KLA 2135

    KLA

    2135

    Defect Inspectionヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証:60日以上前
    KLA 2135

    KLA

    2135

    Defect Inspectionヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証:60日以上前