説明
Wafer surface particle detection machine構成
構成なしOEMモデルの説明
The KLA 2608, provides semiconductor manufacturers with a yield management system sensitive enough for engineering analysis and fast enough for in-line monitoring of the semiconductor manufacturing process.ドキュメント
ドキュメントなし
KLA
2608
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
112611
ウェーハサイズ：
6"/150mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Wafer surface particle detection machine構成
構成なしOEMモデルの説明
The KLA 2608, provides semiconductor manufacturers with a yield management system sensitive enough for engineering analysis and fast enough for in-line monitoring of the semiconductor manufacturing process.ドキュメント
ドキュメントなし