説明
KLA Advanced Macro Inspection Module構成
構成なしOEMモデルの説明
2900 and 2905: Optical broadband plasma wafer defect inspectors that provide capture of yield-relevant defects on 2Xnm memory and logic devices.ドキュメント
KLA
2900
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
69546
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
2011
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA
2900
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 16日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
69546
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
2011
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Available
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Available