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KLA 2900
    説明
    KLA Advanced Macro Inspection Module
    構成
    Macro Inspection
    OEMモデルの説明
    2900 and 2905: Optical broadband plasma wafer defect inspectors that provide capture of yield-relevant defects on 2Xnm memory and logic devices.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    KLA

    2900

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    Defect Inspection

    最終検証： 60日以上前

    主なアイテムの詳細
    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    不明

    製品ID：

    91270

    ウェーハサイズ：

    12"/300mm

    ヴィンテージ：

    2011

    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    同様のリスト
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    KLA 2900

    KLA

    2900

    Defect Inspection
    ヴィンテージ： 2011状態： 中古
    最終確認60日以上前

    KLA

    2900

    verified-listing-icon
    検証済み
    カテゴリ
    Defect Inspection
    最終検証： 60日以上前
    listing-photo-9833c1548d6e4b44a5084d8895436347-https://d2pkkbyngq3xpw.cloudfront.net/moov_media/3.0-assets/photo-coming-soon-small.png
    主なアイテムの詳細
    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    不明

    製品ID：

    91270

    ウェーハサイズ：

    12"/300mm

    ヴィンテージ：

    2011

    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    説明
    KLA Advanced Macro Inspection Module
    構成
    Macro Inspection
    OEMモデルの説明
    2900 and 2905: Optical broadband plasma wafer defect inspectors that provide capture of yield-relevant defects on 2Xnm memory and logic devices.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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    KLA 2900

    KLA

    2900

    Defect Inspectionヴィンテージ： 2011状態： 中古最終検証：60日以上前