メインコンテンツにスキップ
Moov logo

Moov Icon
KLA 8935
    説明
    説明なし
    構成
    8935i
    OEMモデルの説明
    The latest generation 8935 inspector employs new optical technologies and DesignWise® and FlexPoint™ precise area inspection techniques to capture critical defects that can cause chip failures. DefectWise® AI technology enables fast, inline separation of defect types for improved defect discovery and binning. With these innovations, the 8935 supports high productivity capture of yield and reliability-related defects at a low nuisance rate, helping both leading-edge and legacy node fabs accelerate delivery of their products—reliably and at lower cost.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    Defect Inspection

    最終検証: 3日前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    137288


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    2022


    Logistics Support
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    同様のリスト
    すべて表示
    KLA 8935

    KLA

    8935

    Defect Inspection
    ヴィンテージ: 2022状態: 新規
    最終確認30日以上前

    KLA

    8935

    verified-listing-icon
    検証済み
    カテゴリ
    Defect Inspection
    最終検証: 3日前
    listing-photo-dd71cbff2a364c8387943ee8e2866e3d-https://d2pkkbyngq3xpw.cloudfront.net/moov_media/3.0-assets/photo-coming-soon-small.png
    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    137288


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    2022


    Logistics Support
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    説明
    説明なし
    構成
    8935i
    OEMモデルの説明
    The latest generation 8935 inspector employs new optical technologies and DesignWise® and FlexPoint™ precise area inspection techniques to capture critical defects that can cause chip failures. DefectWise® AI technology enables fast, inline separation of defect types for improved defect discovery and binning. With these innovations, the 8935 supports high productivity capture of yield and reliability-related defects at a low nuisance rate, helping both leading-edge and legacy node fabs accelerate delivery of their products—reliably and at lower cost.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    同様のリスト
    すべて表示
    KLA 8935

    KLA

    8935

    Defect Inspectionヴィンテージ: 2022状態: 新規最終検証:30日以上前
    KLA 8935

    KLA

    8935

    Defect Inspectionヴィンテージ: 2022状態: 中古最終検証:3日前
    KLA 8935

    KLA

    8935

    Defect Inspectionヴィンテージ: 2022状態: 中古最終検証:3日前