説明
No missing parts.構成
構成なしOEMモデルの説明
The new Candela CS1 and CS2 systems address compound semiconductor wafer inspection applications, providing the unique capability to inspect both transparent and opaque wafers for detection and classification of particles and other process-related defects.ドキュメント
ドキュメントなし
KLA
CANDELA CS1
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
47112
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2007
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA
CANDELA CS1
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
47112
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2007
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Available
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Available
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No missing parts.構成
構成なしOEMモデルの説明
The new Candela CS1 and CS2 systems address compound semiconductor wafer inspection applications, providing the unique capability to inspect both transparent and opaque wafers for detection and classification of particles and other process-related defects.ドキュメント
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